Le tube à rayons X est situé au - dessus de l'échantillon analysé, ce qui minimise le risque d'endommagement du tube par la poudre flottante dans la chambre à vide et élimine la nécessité d'utiliser un adhésif lors de l'analyse de l'échantillon de poudre, ce qui rend la préparation de l'échantillon plus rapide et plus facile.
Les vitesses d'aspiration et de décharge peuvent être commutées directement à des vitesses lentes et rapides, ce qui permet une manipulation optimale des échantillons de poudre et de métal.

Caractéristiques

• Réalisation d'une analyse de haute précision de différentes teneurs en différents éléments de poudres, d'échantillons solides

• La table d'échantillon de positionnement de haute précision répond aux exigences de haute précision pour l'analyse des alliages

• Système optique spécial réduit l'erreur causée par la surface inégale de l'échantillon

• Chambre d'échantillon peut être simplement retiré pour un nettoyage facile

• Interface d'exploitation concise, haut degré d'automatisation

ZSX Primus III +

Rigaku zsx primus III + détermine rapidement et quantitativement les éléments atomiques primaires et secondaires, de l'oxygène (o) à l'uranium (u), dans une variété de types d'échantillons avec très peu de critères.

Tuyaux au - dessus des éléments optiques pour une plus grande fiabilité

Le zsx primus III + est doté de la configuration optique innovante ci - dessus. Grâce à l'entretien de la Chambre d'échantillon, il n'y a plus de crainte de chemins de faisceaux contaminés ou de temps d'arrêt. La géométrie au - dessus des éléments optiques élimine les problèmes de nettoyage et prolonge le temps d'utilisation.

Positionnement d'échantillon de haute précision

Le positionnement très précis de l'échantillon garantit que la distance entre la surface de l'échantillon et le tube à rayons X reste constante. Ceci est important pour les applications nécessitant une grande précision, telles que l'analyse des alliages. Zsx primus III + utilise une configuration optique unique pour des analyses de haute précision conçues pour minimiser les erreurs causées par des surfaces non planes dans les échantillons, telles que les billes fondues et les particules pressées

Paramètres de base sqx avec le logiciel ez - scan

Ez - scan permet à l'utilisateur d'analyser des échantillons inconnus sans configuration préalable. La fonction gain de temps ne nécessite que quelques clics de souris et entrez le nom de l'échantillon. Combiné avec le logiciel sqx Basic parameters, il peut fournir les résultats XRF les plus précis et les plus rapides. Sqx est capable de corriger automatiquement tous les effets de matrice, y compris le chevauchement des lignes. Sqx peut également corriger les effets secondaires d'excitation des photoélectrons (lumière et éléments ultra - légers), des atmosphères différentes, des impuretés et des tailles d'échantillons différentes. L'utilisation d'une bibliothèque de correspondance et d'un programme d'analyse de scan parfait peut améliorer la précision.

Caractéristiques

• Analyse des éléments de o à U

• Les optiques au - dessus des tuyaux minimisent les problèmes de pollution

• Petite empreinte et espace de laboratoire limité à utiliser

• Positionnement d'échantillon de haute précision

• Composants optiques spéciaux pour réduire les erreurs causées par la surface de l'échantillon incurvé

• Outil logiciel de contrôle statistique des processus (SPC)

• Le débit peut optimiser l'évacuation et le taux de fuite du vide